• Dil
    • Türkçe
    • English
Malzeme Araştırma Merkezi
  • Ana Sayfa
  • Hakkımızda
    • Hakkımızda
    • Merkezin Amacı
    • Merkezin Yönetmeliği
    • Kişiler
    • Yönetim Kurulu
  • Altyapı / Donanım
    • AFM
    • BET (Yüzey Alanı Ölçüm Cihazı)
    • BET
    • DİLATOMETRE
    • FS5
    • Konfokal Raman Spektrometresi
    • Mekanik Profilometre
    • MTC
    • Parçacık Boyutu Analiz Cihazı
    • SEM
    • TGA
    • XRD
    • XRD (X-Işınları Difraktometresi)
    • XRF
    • WDXRF (Dalga Boylu X Işını Floresans Spektrometresi)
  • Analiz / Proforma Talep
    • Analiz Fiyat Listesi
    • Analiz Talebi (EAS-e-TAM)
  • Diğer
  • İletişim
  • TAM Ana Sayfa

SEM

You are here:Home » SEM


SEM (Taramalı Elektron Mikroskobu)

Malzemelerin yapılarını mikro ve nano boyutta görüntüleyebilmektedir. Kullanılan SE dedektörü ile topografik 3 boyutlu görüntü, BSE dedektörü ile atomik kontrasta bağlı 2 boyutlu görüntü sağlanmaktadır. Ayrıca EDX dedektörü ile de yapıların elementel içeriği nicel ve nitel olarak bulunabilmekte ve haritalandırma ile resim üzerinde elementlerin dağılımı izlenebilmektedir.

Quanta 250 SEM cihazı ile iletken olmayan örnekler, kaplama yapılmadan incelenebilmekte ve ESEM modu sayesinde nemli örneklerle de çalışılabilmektedir.

Merkezimizde bulunan elektron mikroskopları ve donanımları aşağıdaki gibidir:

FEI QUANTA 250 FEG:

  • SE Detektörü
  • BSE Dedektörü
  • EDX Dedektörü (Oxford Aztec)
  • ESEM Detektörü
  • STEM Dedektörü

 

Philips XL 30S FEG:

  • SE Detektörü
  • BSE Dedektörü
  • EDX Dedektörü (EDAX)

ZEISS EVO10:

  • SE Dedektörü
  • BSE Dedektörü
  • EDX Dedektörü (EDAX)
back up
© Copyright 2025 Malzeme Araştırma Merkezi
  • Dil
    • Türkçe
    • English