• Dil
    • Türkçe
    • English
Malzeme Araştırma Merkezi
  • Ana Sayfa
  • Hakkımızda
    • Hakkımızda
    • Merkezin Amacı
    • Merkezin Yönetmeliği
    • Kişiler
    • Yönetim Kurulu
  • Altyapı / Donanım
    • AFM
    • BET (Yüzey Alanı Ölçüm Cihazı)
    • BET
    • DİLATOMETRE
    • FS5
    • Konfokal Raman Spektrometresi
    • Mekanik Profilometre
    • MTC
    • Parçacık Boyutu Analiz Cihazı
    • SEM
    • TGA
    • XRD
    • XRD (X-Işınları Difraktometresi)
    • XRF
    • WDXRF (Dalga Boylu X Işını Floresans Spektrometresi)
  • Analiz / Proforma Talep
    • Analiz Fiyat Listesi
    • Analiz Talebi (EAS-e-TAM)
  • Diğer
  • İletişim
  • TAM Ana Sayfa

XRD (X-Işınları Difraktometresi)

You are here:Home » XRD (X-Işınları Difraktometresi)

Bruker D8 ADVANCE

Katı, toz veya ince film örneklerin yapılarındaki çeşitli kristal formlar veya fazlar hakkında bilgi veren analitik bir tekniktir. Bu teknik, malzemenin içerdiği fazlar ve bu fazların konsantrasyonu, kristal olmayan fazların miktarı ve kristal boyutu hakkında bilgi verir.

Sayfalar

  • Altyapı / Donanım
  • Analiz Fiyat Listesi
  • Analiz Formları
  • Analiz İstek Formu
  • Analiz Talebi
  • Anasayfa
  • Anasayfa
  • BET (Yüzey Alanı Ölçüm Cihazı)
  • DİLATOMETRE
  • Etkinlikler
  • Fiyat Listesi
  • Hakkımızda
    • Kişiler
    • MAM Hakkında
    • Merkezin Amacı
  • İletişim
  • Konfokal Raman Spektrometresi
  • Mekanik Profilometre
  • Merkezin Yönetmeliği
  • MTC
  • Parçacık Boyutu Analiz Cihazı
  • WDXRF (Dalga Boylu X Işını Floresans Spektrometresi)
  • XRD (X-Işınları Difraktometresi)
  • Yönetim Kurulu
  • AFM
  • AFM
  • BET
  • BET
  • FS5
  • İyte Dışı Araştırmacılar
  • İyte İçi Araştırmacılar
  • SEM
  • TGA
  • XRD
  • XRF
back up
© Copyright 2025 Malzeme Araştırma Merkezi
  • Dil
    • Türkçe
    • English