• Dil
    • Türkçe
    • English
Malzeme Araştırma Merkezi
  • Ana Sayfa
  • Hakkımızda
    • Hakkımızda
    • Merkezin Amacı
    • Merkezin Yönetmeliği
    • Kişiler
    • Yönetim Kurulu
  • Altyapı / Donanım
    • AFM
    • BET (Yüzey Alanı Ölçüm Cihazı)
    • BET
    • DİLATOMETRE
    • FS5
    • Konfokal Raman Spektrometresi
    • Mekanik Profilometre
    • MTC
    • Parçacık Boyutu Analiz Cihazı
    • SEM
    • TGA
    • XRD
    • XRD (X-Işınları Difraktometresi)
    • XRF
    • WDXRF (Dalga Boylu X Işını Floresans Spektrometresi)
  • Analiz / Proforma Talep
    • Analiz Fiyat Listesi
    • Analiz Talebi (EAS-e-TAM)
  • Diğer
  • İletişim
  • TAM Ana Sayfa

AFM

You are here:Home » AFM

AFM/SPM (Taramalı Uç Mikroskobu)

Bruker-MMSPM Nanoscope 8

Atomik boyutta yüzey özelliklerini incelemek için kullanılır. Yüzey ile probun etkileşmesi sonucu atomik düzeyde üç boyutlu yüzey topoğrafyası görüntülenir.

Taramalı Tünelleme (STM) ve Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) içermektedir.

STM ile iletken örneklerin yüzey karakterizasyonu, moleküler büyüklükleri, yerleşimi ve atomların uzayda tek başına görüntüleri elde edilir.

afm5

back up
© Copyright 2026 Malzeme Araştırma Merkezi
  • Dil
    • Türkçe
    • English