Renishaw inVia Qontor Konfokal Raman Spektrometresi
Farklı optik büyütmeler altında (x5, x20, x50, x100), 532 nm ve 785 nm lazerler ile katı, sıvı, toz ve ince film halindeki malzemelerin makroskopik ve mikroskopik karakterizasyonunu yapilabilmektedir. Raman spektrumdaki pikler yardımıyla numune içerisindeki organik veya inorganik maddelerin bağ yapılarına bakılarak malzemenin kalitatif ve kantitatif analizinin yanı sıra malzemenin yapısını oluşturan fonksiyonel gruplar hakkında bilgi elde edilebilmektedir.